MX25V1006F 1M-BIT[x 1/x 2] CMOS SERIAL NOR FLASH
MXIC(旺宏电子)MX25V1006FOI Serial NOR Flash芯片特性:
概述
软件特性
支持串行外设接口模式 0 和模式 3
输入数据格式:1 字节命令码
1,048,576×1 位结构或 524,288×2 位(双输出模式)结构
块锁定保护:BPO-BP3 状态位定义受软件保护的区域大小,防止编程和擦除指令操作
每个扇区大小均等,各为 4K 字节;或每个块大小均等,各为 32K/64K 字节
任何块均可单独擦除
自动擦除和自动编程算法
自动对选定扇区的数据进行擦除和验证
通过内部算法自动对选定页面进行编程和验证,该算法会自动设定编程脉冲宽度(任何要编程的页面都应先处于擦除状态)
单电源供电操作
读、擦除和编程操作的电压为 2.3-3.6 伏
具备闩锁保护功能,在 - 1V 至 Vc+1V 电压范围内可承受 100mA 电流
状态寄存器功能
电子标识
JEDEC 2 字节器件 ID
RES 命令,1 字节器件 ID
硬件特性
串行时钟(SCLK)输入
串行时钟输入端
SI/SIO0
串行数据输入或双输出模式下的串行数据输出
SO/SIO1
串行数据输出或双输出模式下的串行数据输出
WP# 引脚
硬件写保护
性能
高性能
快速读取:
-1 路 I/O:
104MHz,带 8 个虚拟周期(2.7V-3.6V)
80MHz,带 8 个虚拟周期(2.3V-2.7V)
- 双 I/O(用于 DREAD 指令):
104MHz,带 4 个虚拟周期(2.7V-3.6V)
80MHz,带 4 个虚拟周期(2.3V-2.7V)
快速编程时间:1.6 毫秒 / 页(256 字节)
字节编程时间:20 微秒
快速擦除时间:
50 毫秒(典型值)/ 扇区(每扇区 4K 字节);
0.3 秒(典型值)/ 块(每块 32K 字节);
0.6 秒(典型值)/ 块(每块 64K 字节);
1.8 秒(典型值)/ 芯片。
低功耗
低活动读取电流:50MHz 时最大 6mA
低活动编程电流:典型值 5mA / 页
低活动扇区擦除电流:典型值 5mA
低待机电流:典型值 5μA
深度掉电模式:典型值 1μA
最少 100,000 次擦除 / 编程循环
20 年数据保存期
封装
8-USON (2x3mm)
8-pin TSSOP (173mil)
8-pin SOP (150mil)
所有器件均符合 RoHS 标准且不含卤素
MX25V1006FOI Serial NOR Flash芯片概述:
MX25V1006F 是一款 CMOS 1,048,576 位串行 NOR 闪存,内部配置为 131,072×8 位。
MX25V1006F 具备串行外设接口和软件协议,可在简单的三线总线上运行。这三条总线信号分别是时钟输入(SCLK)、串行数据输入(SI)和串行数据输出(SO)。通过 CS# 输入可启用对该器件的串行访问。
MX25V1006F 支持对整个芯片进行顺序读取操作。
发出编程 / 擦除命令后,会执行自动编程 / 擦除算法,对指定的页或扇区 / 块位置进行编程 / 擦除并验证。编程命令以页(256 字节)为单位执行。擦除命令可对芯片、4K 字节扇区、32K 字节块、64K 字节块或整个芯片执行。
为方便用户接口操作,该器件内置状态寄存器以指示芯片状态。可通过发出状态读取命令,借助 WIP 位检测编程或擦除操作的完成状态。
当器件不工作且 CS# 为高电平时,它会保持在待机模式。
MX25V1006F 采用 Macronix 专有的存储单元,即使经过 100,000 次编程和擦除循环,仍能可靠地保存存储内容。

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