1.8V, 8G-bit NAND Flash Memory MX60UF8G28AD
MXIC(旺宏电子)MX60UF8G28AD-TI 单级单元 NAND 闪存芯片型号介绍:
1. 特性
・8Gb(吉比特)容量 SLC(单级单元)NAND 闪存
由两颗 4Gb(吉比特)裸片堆叠而成
总线宽度:x8
页大小:(4096+256)字节
块大小:(256K+16K)字节(注:256K 字节 = 262144 字节,16K 字节 = 16384 字节)
平面大小:每颗裸片含 2 个平面,每个平面 1024 个块
・兼容 ONFI 1.0 标准(注:ONFI 为开放式 NAND 闪存接口规范,用于统一 NAND 闪存的接口协议)
・命令 / 地址 / 数据多路复用(注:即通过同一接口线传输命令、地址和数据,节省引脚资源)
・用户冗余区
每页附加 256 字节(用于差错校验、坏块标记等)
・快速读取访问
存储阵列到寄存器的延迟:25 微秒(μs)
连续读取速度:25 纳秒(ns)/ 字节
・支持缓存读取(Cache Read)
・页编程操作
页编程时间:典型值 320 微秒(μs)
・支持缓存编程(Cache Program)
・块擦除操作
块擦除时间:典型值 4 毫秒(ms)
・单电压供电
供电电压(VCC):1.7~1.95 伏(V)
・低功耗
工作电流(读取 / 编程 / 擦除):最大 30 毫安(mA)
・待机模式
待机电流:最大 100 微安(μA)
・硬件数据保护:写保护(WP#)引脚(注:# 表示低电平有效,该引脚可禁止写入操作以保护数据)
・出厂时块 0-7 已通过差错校验(ECC)验证并可正常使用
・器件状态指示
就绪 / 忙(R/B#)引脚(注:用于指示器件是否处于可操作状态)
状态寄存器(注:通过读取寄存器可获取器件详细工作状态)
・片选信号无关(Chip Enable Don't Care)
简化系统接口设计(注:无需精确控制片选信号即可维持正常接口通信)
・支持符合 ONFI 标准的唯一 ID 读取,且 ID 采用类物理不可克隆功能(PUF-like)的编码结构(注:PUF 技术可生成器件独有的、难以复制的标识,提升安全性)
・支持安全一次性可编程(OTP)功能(注:OTP 区域数据写入后不可修改,适用于存储密钥、设备标识等敏感信息)
・高可靠性
随机数发生器(默认禁用):可通过 “设置特性”(Set Feature)命令启用(注:用于数据加密、随机地址生成等场景,提升数据安全性)
用于数据恢复的特殊读取功能:可通过 “设置特性”(Set Feature)命令启用(注:当常规读取失败时,可通过该功能尝试恢复数据)
耐用性:典型值 60K(6 万)次编程 / 擦除循环(需配合每(512+32)字节 8 位的差错校验(ECC)使用)
数据保留期:10 年(注:指在规定条件下,器件存储的数据可保持有效且无错误的时间)
・宽温度工作范围
数据保留期:10 年
宽温工作范围:-40°C 至 + 85°C
封装形式(PACKAGE)
1) 48-TSOP(I) (12mm x 20mm)
2) 63-ball 9mmx11mm VFBGA
所有封装器件均符合欧盟《关于限制在电子电气设备中使用某些有害成分的指令》(RoHS)要求,且不含卤素。
MX60UF8G28AD-TI 单级单元 NAND 闪存芯片介绍:
MX60UF8G28AD 是一款容量为 8Gb(吉比特)的 SLC(单级单元)NAND 闪存器件。该器件具备标准的 NAND 闪存特性,且拥有可靠的质量 —— 典型编程 / 擦除(P/E)循环次数可达 60K(6 万次,需配合主机端差错校验(ECC)功能),因此非常适合用于嵌入式系统的代码存储与数据存储场景。
该产品系列要求每(512 + 32)字节的数据需搭配 8 位的 ECC(差错校验码)。
在读取和编程操作中,MX60UF8G28AD 通常以 4352 字节的 “页” 为单位进行访问。
MX60UF8G28AD 的存储阵列由数千个 “块” 构成,每个块包含 64 个 “页”,单个页的容量为(4096 + 256)字节。其中,每个页额外包含 256 字节的空间,用于 ECC 校验及其他用途。该器件内置一个 4352 字节的片上缓冲区,供数据加载与访问使用。
MX60UF8G28AD 的缓存读取(Cache Read)操作具有以下性能:首字节读取访问延迟为 25 微秒(μs),连续读取速度为 25 纳秒(ns)/ 字节;且后续连续页的读取延迟会从常规读取延迟(tR)缩短至缓存忙状态延迟(tRCBSY)。
MX60UF8G28AD 的功耗特性如下:在所有操作模式(读取 / 编程 / 擦除)下,功耗为 30 毫安(mA);在待机模式下,功耗为 100 微安(μA)。

