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F59L2G81XA-25TG2B

F59L2G81XA-25TG2B
产品型号:F59L2G81XA-25TG2B
制造商:ESMT(晶豪科技)
价格:具体面议
温控范围:0°C~+70°C
用途:快闪记忆体
存储容量 :2Gbit
电压-电源:2.7V~3.6V
规格封装:48 pin TSOPI
说明书:点击下载
产品介绍

F59L2G81XA (2B) 2 Gbit (256M x 8) 3.3V NAND Flash Memory

ESMT(晶豪科技) F59L2G81XA-25TG2B SLC NAND Flash存储芯片特点:

工作电压:3.3V(2.7V~3.6V)

兼容开放式 NAND 闪存接口(ONFI)1.0 标准 ¹

采用单级存储单元(SLC)技术

结构配置

页面大小:2176 字节(2048 + 128 字节)

块大小:64 页(128K + 8K 字节)

平面大小:2 个平面 × 每平面 1024 个块

器件容量:2048 个块

异步 I/O 性能

读周期 / 写周期时间(tRC/tWC):25ns

阵列操作性能

页面读取:25μs

页面编程:典型值 200μs

块擦除:典型值 2ms

命令集:遵循 ONFI NAND Flash 协议

高级命令集

页面编程缓存模式

页面读取缓存模式

块永久锁定(块地址 47:0)

一次性可编程(OTP)模式

可编程驱动强度

双平面命令(仅在关闭 ECC 时可用)

读取唯一 ID

块锁定

内部数据搬移

操作状态字节(软件检测)

操作完成状态

操作成功 / 失败状态

写保护状态

就绪 / 忙信号(R/B#):硬件方式检测操作完成

WP#:对整个器件进行写保护

出厂时块 0 有效并带 ECC;最小所需 ECC 参见错误管理相关说明

上电后第一条命令必须为复位命令(RESET,FFh)

支持在读取数据所在平面内执行内部数据搬移操作

质量与可靠性

数据保存:符合 JESD47G 标准

擦写寿命:100,000 次编程 / 擦除周期

未擦写数据保存时间:10 年

工作温度

商用级:0℃~+70℃

F59L2G81XA-25TG2B SLC NAND Flash存储芯片说明:

NAND Flash 器件配备异步数据接口,可实现高性能 I/O 操作。此类器件采用高度复用的 8 位总线(I/Ox) 传输命令、地址与数据。异步数据接口由 5 路控制信号实现:CE#、CLE、ALE、WE# 与 RE#。另有额外信号用于硬件写保护控制及器件状态监测(R/B#)。

该硬件接口使器件引脚数量少,并采用标准引脚排布,不同容量芯片引脚定义完全兼容,便于后续升级至更高容量时无需重新设计电路板。

Target(目标单元) 是由片选信号访问的最小存储单元,包含一个或多个 NAND Flash 裸片(Die)。NAND Flash 裸片是可独立执行命令、反馈状态的最小单元,在 ONFI 规范中被称为逻辑单元(LUN)。每个片选信号至少对应一个 NAND Flash 裸片。详细说明请参考器件与阵列组织结构。

F59L2G81XA-25TG2B引脚图

F59L2G81XA-25TG2B功能框图



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