M15T1G1664A–DEBIAG2S

M15T1G1664A%20(2S) 8 M x 16 Bit x 8 Banks DDR3(L) SDRAM

M15T1G1664A–DEBIAG2S特色

接口和电源

˗SSTL-135:VDD/VDDQ=1.35V（-0.067V/+0.1V）

˗SSTL_15:VDD/VDDQ=1.5V（±0.075V）

符合JEDEC DDR3（L）标准

˗8n预取架构

˗差分时钟（CK/CK）和数据选通（DQS/DQS）

˗DQ、DQs和DM数据完整性的双倍数据速率

˗DRAM内置TS的自动自刷新（ASR）

˗自动刷新和自刷新模式（如果TOPER>

+95°C，设备无法支持自重筛选功能）

省电模式

˗部分阵列自刷新（PASR）

˗断电模式

信号完整性

˗可配置DS以实现系统兼容性

˗可配置的管芯端接

˗通过以下方式校准DS/ODT阻抗精度的ZQ

信号同步

˗通过MR设置写入电平

˗通过MPR读取电平

可编程功能

CAS延迟（6/7/8/9/10/11/13/14）

CAS写入延迟（5/6/7/8/9/10）

˗加性潜伏期（0/CL-1/CL-2）

˗写入恢复时间（2016年5月6日至7月8日至10月12日至14日）

˗突发类型（顺序/交错）

˗突发长度（BL8/BC4/BC4或8在飞行中）

˗自刷新温度范围（正常/扩展）

˗输出驱动器阻抗（34/40）

˗RTT_Nom的模具终止（20/30/40/60/120）

˗RTT_WR（60/120）的模内终止

˗预充电断电（慢/快）

外部ZQ焊盘（240欧姆±1%）

M15T1G1664A–DEBIAG2S描述

1Gb双倍数据速率3（DDR3（L））DRAM是实现高速操作的双倍数据速率架构。它是内部配置为八存储体DRAM。

1Gb芯片由8Mbit x 16个I/O x 8个存储体设备组成。这些同步设备实现了高速双倍数据速率一般应用的传输速率高达2133 Mb/sec/pin。 

该芯片的设计符合DDR3（L）DRAM的所有关键特性，所有控制和地址输入都是与一对外部提供的差分时钟同步。输入在差分时钟（CK）的交叉点处被锁定上升和CK下降）。所有I/O都以源同步方式与差分DQS对同步。 

这些器件使用单个1.35V-0.067V/+0.1V或1.5V±0.075V电源运行，并采用BGA封装。

M15T1G1664A–DEBIAG2S基本功能

DDR3（L）SDRAM是一种高速动态随机存取存储器，内部配置为八存储体DRAM

DDR3（L）SDRAM使用8n预取架构来实现高速操作。8n预取架构被组合在一起其接口设计为在I/O引脚处每个时钟周期传输两个数据字。一次读取或写入操作DDR3（L）SDRAM由内部DRAM核心的单个8n位宽、四时钟数据传输和八个相应的在I/O引脚处进行n位宽、半时钟周期的数据传输。DDR3（L）SDRAM的读写操作是面向突发的，从选定位置开始，并持续突发长度八个或按程序顺序“切碎”的四个。操作从注册活动命令开始，然后是读取或写入命令。与Active命令一致注册的地址位用于选择要激活的存储体和行（BA0-BA2选择存储体；A0-A12选择行；请参阅“DDR3（L）SDRAM寻址”具体要求）。与读取或写入命令一致的注册地址位用于选择起始地址确定突发操作的列位置，确定是否要发出自动预充电命令（通过A10），然后选择BC4或如果在模式寄存器中启用了BL8模式“动态”（通过A12）。

在正常操作之前，DDR3（L）SDRAM必须以预定义的方式加电和初始化。下列各节提供了详细的信息，包括设备重置和初始化、寄存器定义、命令描述和设备操作。