EN29LV160DT-70TIP2W Flash Parallel NOR
EN29LV160D(2W) 16 Megabit (2048K x 8-bit / 1024K x 16-bit) Flash Memory Boot Sector Flash Memory, CMOS 3.0 Volt-only
特征
3.0V、 单电源操作
-最小化系统级电源要求
高性能
-访问时间快至70 ns
低功耗(典型值为5MHz)
-9mA典型有效读取电流
-20mA典型编程/擦除电流
-小于1电流处于待机或自动状态睡眠模式。
灵活的部门架构:
-一个16K字节,两个8K字节,一个32K字节,31个64KB扇区(字节模式)
-一个8千瓦,两个4千瓦,一个16千瓦31个32 Kword扇区(字模式)
行业保护:
-硬件锁定扇区以防止在单个内存中执行编程或擦除操作部门
-此外,临时部门组取消保护允许以前的代码更改锁定的部门。
安全的硅行业
-为代码或数据提供128个单词的区域它可以被永久保护。
-一旦该部门受到保护,就被禁止再次在扇区内编程或擦除。
高性能编程/擦除速度
-字节/字编程时间:典型值为8µs
-扇区擦除时间:典型100ms
-芯片擦除时间:通常为4秒
JEDEC标准程序和擦除命令
JEDEC标准数据#轮询和切换比特特征
单扇区和芯片擦除
扇区无保护模式
嵌入式擦除与编程算法
擦除挂起/恢复模式:
在以下期间阅读并编程另一个部门擦除挂起模式
支持JEDEC通用闪存接口(CFI)
低Vcc写抑制<2.5V
最低100K编程/擦除耐久性周期
数据保留时间20年
程序包选项
-48针TSOP(1型)
-48球6mm x 8mm TFBGA
-48球4mm x 6mm WFBGA
工业温度范围
一般说明
EN29LV160D(2W)是一个16兆位、电可擦除、读/写非易失性闪存,组织为2097152个字节或1048576个字。任何字节通常都可以在8µs内编程。这个EN29LV160D(2W)具有3.0V电压读写操作,访问时间快至70ns消除了高性能微处理器系统中对WAIT状态的需求。
EN29LV160D(2W)具有单独的输出启用(OE#)、芯片启用(CE#)和写入启用(WE#)控制,消除总线争用问题。该设备设计为允许单扇区或全芯片擦除操作,其中每个扇区都可以单独保护,防止编程/擦除操作或暂时不受保护的擦除或编程。该设备可以维持至少100K每个扇区上的编程/擦除周期。
T = Top boot Sector
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