EN29LV800D (2A) 系列 8 Megabit (1024K x 8-bit / 512K x 16-bit) Flash Memory
Boot Sector Flash Memory, CMOS 3.0 Volt-only
EN29LV800DT
特征
3.0V、 单电源操作
-最小化系统级电源要求
高性能
-访问时间快至70 ns
低功耗(5 MHz时的典型值)
-9mA典型有效读取电流
-20mA典型编程/擦除电流
-小于1电流处于待机状态或
自动睡眠模式
灵活的部门架构:
-一个16K字节,两个8K字节,一个32K字节,
15个64KB扇区(字节模式)
-一个8千瓦,两个4千瓦,一个16千瓦
15个32 Kword扇区(单词模式)
行业保护:
-硬件锁定扇区以防止
在单个内存中执行编程或擦除操作
部门
-此外,临时部门组
取消保护允许以前的代码更改
锁定的部门。
安全的硅行业
-为代码或数据提供128个单词的区域
它可以被永久保护。
-一旦该部门受到保护,就被禁止
再次在扇区内编程或擦除。
高性能编程/擦除速度
-字节/字编程时间:典型值为8µs
-扇区擦除时间:典型100ms
-芯片擦除时间:通常为2秒
JEDEC标准程序和擦除
命令
JEDEC标准数据#轮询和切换
比特特征
单扇区和芯片擦除
扇区无保护模式
嵌入式擦除与编程算法
擦除挂起/恢复模式:
在以下期间阅读并编程另一个部门
擦除挂起模式
支持JEDEC通用闪存接口
(CFI)
低VCC写抑制<2.5V
最低100K编程/擦除耐久性
周期
数据保留时间20年
程序包选项
-48针TSOP(1型)
-48球6mm x 8mm TFBGA
工业温度范围
一般说明
该设备是一个8兆位、电可擦除、读/写非易失性闪存,组织如下
1048576个字节或524288个字。任何字节通常都可以在8µs内编程。该设备的特点
3.0V电压读写操作,访问时间快至70ns,无需等待
高性能微处理器系统中的状态。
该设备具有单独的输出启用(OE#)、芯片启用(CE#)和写入启用(WE#)控制,
这消除了总线争用问题。该设备设计为允许单扇区或全芯片
擦除操作,其中每个扇区都可以单独保护,防止编程/擦除操作,或
暂时不受保护,无法擦除或编程。该设备可以维持至少100K
每个扇区上的编程/擦除周期。
