F59D1G81MB(2M) 1 Gbit (64M x 16) 1.8V NAND Flash Memory
ESMT(晶豪科技)F59D1G161MB-45BG2M SLC NAND Flash芯片特征
电源电压:1.8V(1.7V~1.95V)
组织结构
x16 结构:
存储单元阵列:(64M + 2M) × 16 位
数据寄存器:(1K + 32) × 16 位
自动编程与擦除
x16 结构:
页编程:(1K + 32) 字
块擦除:(64K + 2K) 字
页读操作
x16 结构:
页容量:(1K + 32) 字
存储单元:1 位 / 存储单元
快速写入周期时间
命令 / 地址 / 数据复用 I/O 端口
硬件数据保护
电源切换期间的编程 / 擦除锁定
高可靠性 CMOS 浮栅技术
ECC 要求:
x16 结构:每 256 字 4 位
擦写寿命:10 万次编程 / 擦除循环
数据保存时间:10 年
命令寄存器操作
上电时自动读取第 0 页选项
支持从 NAND 启动
自动存储器下载
空操作(NOP):4 个周期
面向高性能编程的缓存编程 / 读操作
缓存读操作
回拷操作
扩展数据输出(EDO)模式
坏块保护
一次性编程(OTP)操作
工作温度
商用级:0℃~+70℃
封装:63 ball BGA
F59D1G161MB-45BG2M SLC NAND Flash芯片说明:
该器件为128M×8 位,附带4M×8 位的备用容量。器件采用1.8V Vcc电源供电。其 NAND 单元为固态大容量存储市场提供了性价比最优的解决方案。
存储器被划分为多个可独立擦除的块,因此可在擦除旧数据的同时保留有效数据。该器件包含1024 个块,每个块由 64 页组成,每页包含两个由 32 个闪存单元串联构成的 NAND 结构。
对于 x8 器件,页编程操作可在典型 300μs 内完成 2112 字节页面的写入,块擦除操作可在典型 4ms 内完成 128K 字节块的擦除。
页面模式下的数据可按每字节45ns的周期时间读出。I/O 引脚用作地址、命令输入以及数据输入 / 输出端口。
回拷功能可优化坏块管理:当页编程操作失败时,数据可直接在同一阵列区域内的另一页进行编程,无需耗时的串行数据载入阶段。
缓存编程功能允许在数据寄存器向闪存阵列拷贝数据的同时,将数据载入缓存寄存器。这种流水线编程操作可在向存储器写入长文件时提升编程吞吐率。
器件还实现了缓存读功能,该功能可在需要连续读出页面时显著提升读取吞吐率。
本器件还包含一项附加功能:上电自动读取。

