F59L1G81MB(2M) 1 Gbit (128M x 8) 3.3V NAND Flash Memory
ESMT(晶豪科技)F59L1G81MB-25BG2M SLC NAND Flash芯片特征
工作电压:3.3V(2.7V~3.6V)
结构
存储单元阵列:(128M + 4M) × 8 位
数据寄存器:(2K + 64) × 8 位
自动编程与擦除
页编程:(2K + 64) 字节
块擦除:(128K + 4K) 字节
页读取操作
页大小:(2K + 64) 字节
随机读取:最大 25μs
串行访问:3.3V 条件下最小 25ns
存储单元:1 位 / 存储单元
快速写入周期时间
编程时间:典型值 300μs
块擦除时间:典型值 4ms
命令 / 地址 / 数据复用 I/O 端口
硬件数据保护
电源切换期间编程 / 擦除锁定保护
可靠的 CMOS 浮栅工艺
ECC 要求:4 位 / 528 字节
擦写寿命:10 万次编程 / 擦除周期
数据保存时间:10 年
命令寄存器操作
上电自动页 0 读取选项
支持 NAND 启动
自动存储器加载
空操作(NOP):4 个周期
用于高性能编程的缓存编程操作
缓存读取操作
回拷操作
扩展数据输出(EDO)模式
一次性可编程(OTP)操作
坏块保护
工作温度
商用级:0℃~+70℃
封装:63 ball BGA
F59L1G81MB-25BG2M SLC NAND Flash芯片说明:
该器件为128M×8 位,并配备4M×8 位的备用容量。器件采用3.3V VCC电源供电。其 NAND 存储单元为固态大容量存储市场提供了极具成本效益的解决方案。存储器被划分为多个可独立擦除的块,因此可在擦除旧数据的同时保留有效数据。
该器件包含1024 个块,每个块由64 页组成,每页由两个 NAND 结构构成,每个结构包含32 个串联的 Flash 存储单元。对于 8 位器件,编程操作可在典型 400μs内完成 2112 字节页面的写入,擦除操作可在典型 3ms内完成 128K 字节块的擦除。
页面模式下的数据可按每字节25ns的周期时间读出。I/O 引脚复用为地址、命令输入以及数据输入输出端口。回拷功能可优化坏块管理:当页面编程操作失败时,数据可直接在同一阵列区域内的另一页面进行编程,无需耗时的串行数据载入过程。
缓存编程功能允许在数据寄存器向 Flash 阵列复制数据的同时,将数据载入缓存寄存器。这种流水线式编程操作提升了向存储器写入大文件时的编程吞吐量。器件还集成了缓存读取功能,该功能可显著提升连续页面数据流输出时的读取吞吐量。本器件还具备一项附加功能:上电自动读取。

