F59L1G81LB(2M) 1 Gbit (128M x 8) 3.3V NAND Flash Memory
ESMT(晶豪科技)F59L1G81LB-25TG2M SLC NAND Flash芯片特征
工作电压:3.3V(2.7V~3.6V)
结构
存储单元阵列:(128M + 4M) × 8 位
数据寄存器:(2K + 64) × 8 位
自动编程与擦除
页编程:(2K + 64) 字节
块擦除:(128K + 4K) 字节
页读操作
页大小:(2K + 64) 字节
随机读取:最大 25μs
串行访问:3.3V 条件下最小 25ns
存储单元:1 位 / 存储单元
快速写入周期时间
编程时间:典型值 400μs
块擦除时间:典型值 4ms
命令 / 地址 / 数据复用 I/O 端口
硬件数据保护
电源切换期间的编程 / 擦除锁定保护
可靠的 CMOS 浮栅工艺
ECC 要求:1 位 / 528 字节
擦写寿命:10 万次编程 / 擦除周期
数据保存时间:10 年
命令寄存器操作
上电自动页 0 读取选项
支持从NAND启动
自动存储器加载
空操作(NOP):4 个周期
用于高性能编程的缓存编程操作
缓存读取操作
回拷操作
扩展数据输出(EDO)模式
一次性可编程(OTP)操作
坏块保护
封装:48 pin TSOPI
F59L1G81LB-25TG2M SLC NAND Flash芯片说明:
该器件为128M×8位,附带4M×8位的备用容量。器件采用 3.3V 电源电压供电。其NAND单元为固态大容量存储市场提供了极具成本效益的解决方案。存储器被划分为多个可独立擦除的块,因此可在擦除旧数据的同时保留有效数据。
该器件包含1024个块,每个块由64页组成,每页由两个NAND结构构成,每个结构包含32个串联的Flash单元。对于8位器件,编程操作可在典型400μs内完成 2112 字节页面的写入,擦除操作可在典型3ms内完成128K字节块的擦除。
页面模式下的数据可按每字节25ns的周期时间读出。I/O引脚作为地址、命令输入以及数据输入输出的端口。回拷功能可优化坏块管理:当页面编程操作失败时,数据可直接在同一阵列区域内的另一页面进行编程,无需耗时的串行数据载入过程。缓存编程功能允许在数据寄存器向Flash阵列复制数据的同时,将数据载入缓存寄存器。这种流水线式编程操作可提升向存储器写入大文件时的编程吞吐量。器件还具备缓存读取功能,该功能可显著提升连续页面读取时的读取吞吐量。本器件还包含额外功能:上电自动读取。


| 参数 | 符号 | 额定值 | 单位 |
| 任意引脚相对于 VSS 的电压 |
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| 电源电压 | VCC | -0.6 ~ +4.6 | V |
| 输入电压 | VIN | -0.6 ~ +4.6 | V |
| 输入 / 输出电压 | VI/O | -0.6 ~ VCC+0.3(<4.6) | V |
| 偏置工作温度 | TBIAS | -40 ~ +125 | ℃ |
| 存储温度 | TSTG | -65 ~ +150 | ℃ |
| 短路电流 | IOS | 5 | mA |